TDBI 시스템은 듀얼 캡쳐 램과 스마트 오류 캡쳐 램 구조/알고리즘을 사용하여 테스트 시간을 최소화하고 오류 블록 프로세스 제한을 제거하는 메모리 테스트 에이징 시스템이다.테스트 성능이 우수하며 플래시메모리는 물론 SRAM, DDR, RDRAM 램에도 사용된다.TDBI 시스템은 리눅스 기반의 UFO 그래픽 소프트웨어를 이용한 마이크로컴퓨터로 제어되는 고속 노후화된 드라이버에 의해 구동된다.

시스템 규격

Speed		33MHz
PG	유형	ALPG
	순환율	30ns~10.24uS
	주기적 해상도	5ns
TG	사용자 시계	16
TG	타이머 세트 수	128
ADD.& Data Generator	메모리 주소 생성	24X,24Y,4X
ADD.& Data Generator	데이터 생성기	18bits
Channel Q'ty	시계 갯수	8ch / BIB
	주소 개수	32ch x 2 / BIB
	입력\출력 개수입니다	72ch / BIB
PS	전류 범위	PS1,2(50A-Force, Sense)PS3 (18A-Force, Sense)

방 규격

2개의 슬롯/8개의 구역/2개의 챔버 시스템
사이즈:2800(w)x1750(D)x2270(H)mm
무게:약 3.000 킬로그램
온도와 기류
     온도 :-40'C~+140'C
     균일성 : +3°C
     기온 상승과 하강 :-40'C~+25'C/60min
     문 종류:수동
     보드출입문:수동
노화된 플레이트
노화된 플레이트 크기:450 x570mm
노후화된 플레이트 ID 읽기:4x8 다이오드 매트릭스
전원 공급
전원:208 VAC, 3 상, 60HZ, WYE

AIO70H4

시스템 규격

방 규격