AIO3200

AIO 3200是一个晶圆测试系统，用于在晶圆上测试存储器件。该系统使用探针站进行晶圆处理，并使用探针卡作为接口。因此，该系统可以提供直流和交流测试功能，如打开，短路，测量电源电流和直流偏置引脚，以及方便的晶圆测试

FEATURES


  • 1 Head/ System
  • 40MHz Test Speed
  • 224 Parallel Test
  • Per Pin TG
  • FM/RA Possible
  • TR Measure Function Possible
  • ZIF I/F to Probe Card
  • Test Interface : PCI
  • Available Die Damage Protection
  • Available Over/Under stress Detection
  • VDD Over Current Detection
  • Defect Die Isolation
  • LINUX based user Software

SYSTEM SPECIFICATION


  • Driver: 5152 Ch/System
  • Hi Vol. Driver : 896 Ch/System
  • Power Supply : 448 Ch /System
  • Timing Set : 32 set
  • User Clock:16Clock
  • Dual Strobe
  • 24X,24Y Address
  • Pattem Depth : 2048 Line
  • UBM : 16Kbit/Pin for RA
  • DBM : 64M Byte/DUT