事业部-无锡华锡未来半导体

AIO3200
AIO 3200是一个晶圆测试系统，用于在晶圆上测试存储器件。该系统使用探针站进行晶圆处理，并使用探针卡作为接口。因此，该系统可以提供直流和交流测试功能，如打开，短路，测量电源电流和直流偏置引脚，以及方便的晶圆测试
AIO700
由于现有的直流测试仪只能测量静态直流，因此无法在运行上电顺序或模式时初始化设备，也无法在进入特定模式后测量电流。因此，他们在Burn-In中有很高的Burn-Out或overkill的可能性。
AIO700功能直流测试系统是为解决这些问题而开发的系统，并在分选索引时间内执行直流和功能测试，以筛选早期状态的直流和功能故障设备，以尽量减少过程损失。
AIO570
由于现有的直流测试仪只能测量静态直流，因此无法在运行上电顺序或模式时初始化设备，也无法在进入特定模式后测量电流。因此，他们在Burn-In中有很高的Burn-Out或overkill的可能性。
AIO570功能直流测试系统是为解决这些问题而开发的系统，并在分选索引时间内执行直流和功能测试，以筛选早期状态的直流和功能故障设备，以尽量减少过程损失。
AIO7000
TDBI系统是内存(DRAM，闪存)测试老化系统，使用双捕获Ram和智能故障捕获Ram结构/算法最大限度地减少了测试时间，并消除了故障块进程限制。它具有高测试能力，除Flash Memory外，还适用...
TFS500A
由于现有的直流测试仪只能测量静态直流，因此无法在运行上电顺序或模式时初始化设备，也无法在进入特定模式后测量电流。因此，他们在Burn-In中有很高的Burn-Out或overkill的可能性。
TFS500A功能直流测试系统是为解决这些问题而开发的系统，在分选索引时间内进行直流和功能测试，以筛选早期状态的直流和功能故障设备，以尽量减少过程损失。
AIO560
由于现有的直流测试仪只能测量静态直流，因此无法在运行上电顺序或模式时初始化设备，也无法在进入特定模式后测量电流。因此，他们在Burn-In中有很高的Burn-Out或overkill的可能性。 AIO560功能直流测试系统是为解决这些问题而开发的系统，并在分选索引时间内执行直流和功能测试，以筛选早期状态的直流和功能故障设备，以尽量减少过程损失。
AIO70H4
TDBI系统是内存(DRAM，闪存)测试老化系统，使用双捕获Ram和智能故障捕获Ram结构/算法最大限度地减少了测试时间，并消除了故障块进程限制。它具有高测试能力，除Flash Memory外，还适用于SRAM、DDR、RDRAM。TDBI系统的运行由一个微机控制的高速老化驱动系统提供，该驱动系统采用基于Linux的UFO图形软件。

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